一种高能带电粒子成像装置

发明专利有效专利

申请号：
CN202110586767.7
IPC分类号：G01N23/04
申请日期：
2021-05-27
申请人：
中国工程物理研究院应用电子学研究所

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著录项信息

专利名称	一种高能带电粒子成像装置
申请号	CN202110586767.7	申请日期	2021-05-27
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-08-31	公开/公告号	CN113325012A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料 G01N23/04 并形成材料的图片〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;4查看分类表>
申请人	中国工程物理研究院应用电子学研究所	申请人地址	四川省绵阳市游仙区绵山路64号919-1015信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国工程物理研究院应用电子学研究所	当前权利人	中国工程物理研究院应用电子学研究所
发明人	周征;王建新;肖德鑫;王汉斌;劳成龙;陈立均;张鹏;李鹏;周奎;吴岱
代理机构	北京同辉知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	于晶晶

摘要

本发明涉及一种高能带电粒子成像装置，属于带电粒子成像技术领域，依次包括共光轴设置的粒子源、束流匹配传输段、等离子体成像透镜组和探测系统，本发明采用粒子源、束流匹配传输段、等离子体成像透镜组和探测系统组成高能带电粒子成像系统，结构简单且紧凑，提升了高能带电粒子的适用性，丰富了高能带电粒子的应用场景，同时，利用等离子体成像透镜的高梯度优势，降低高阶成像误差，提升高能带电粒子成像装置的空间分辨能力，调节便捷。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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