红外序列图像历史趋势分析方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200410061383.X
IPC分类号：G01J5/00;G06F3/00;G06K9/20
申请日期：
2004-12-17
申请人：
华中科技大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	红外序列图像历史趋势分析方法
申请号	CN200410061383.X	申请日期	2004-12-17
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2005-06-29	公开/公告号	CN1632481
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J5/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J5/00 辐射高温测定法	IPC分类号	G;0;1;J;5;/;0;0;;;G;0;6;F;3;/;0;0;;;G;0;6;K;9;/;2;0查看分类表>
申请人	华中科技大学	申请人地址	湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华中科技大学	当前权利人	华中科技大学
发明人	王晓宇;陈吉红;彭芳瑜;黄植红
代理机构	华中科技大学专利中心	代理人	方放

摘要

红外序列图像历史趋势分析方法，属于设备故障诊断领域，解决红外热图像配准问题，此基础上进行历史趋势分析。本发明步骤为1将待分析设备不同时期拍摄的红外热图像整理到一个分析文件夹中；2用户手工输入定位点，利用仿射变换矩阵、投影变换矩阵或二次型变换矩阵，然后用双线性内插，对图像几何校正，按照参考图像的空间位置配准；3利用热像仪“面扫描”的特点，在图像上搜索，得到各兴趣点位置及温度，绘出并显示该设备在此兴趣点不同时期温度的变化曲线图。本发明实现了设备红外热图的历史趋势分析，为红外热像仪增添动态分析能力；还可以通过与历史温度变化情况的比较观察出异常的温度变化发现故障早期征兆，防范于未然。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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