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半导体设备、检测器和间歇操作控制电路

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201710659763.0
  • IPC分类号:G06F1/3234
  • 申请日期:
    2013-01-11
  • 申请人:
    瑞萨电子株式会社
著录项信息
专利名称半导体设备、检测器和间歇操作控制电路
申请号CN201710659763.0申请日期2013-01-11
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-12-29公开/公告号CN107526427A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06F1/3234IPC分类号G;0;6;F;1;/;3;2;3;4查看分类表>
申请人瑞萨电子株式会社申请人地址
日本东京 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人瑞萨电子株式会社当前权利人瑞萨电子株式会社
发明人丹谦藏
代理机构北京市金杜律师事务所代理人王茂华
摘要
本发明涉及半导体设备、检测器和间歇操作控制电路。所述半导体设备包括:检测器,所述检测器用于将可应用信号的幅度与指定的阈值幅度进行比较,并且输出检测器输出,所述检测器输出指示所述可应用信号的幅度是否高于指定的阈值幅度;以及间歇操作控制电路,所述间歇操作控制电路接收所述检测器输出,并且还接收第一信号,所述第一信号示出所述待机模式状态处于多个模式之中的哪个模式,并且当所述输入信号高于所述指定的阈值幅度时,所述间歇操作控制电路将所述检测器设置为接通(启用)模式状态,并且在所有其它情况下,根据在可应用的第一信号所示出的模式中的所述输入信号的特性来间歇地操作所述检测器。

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