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基于图像分割的双目测距方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201510618179.1
  • IPC分类号:G01C3/00
  • 申请日期:
    2015-09-25
  • 申请人:
    安霸半导体技术(上海)有限公司
著录项信息
专利名称基于图像分割的双目测距方法
申请号CN201510618179.1申请日期2015-09-25
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2016-01-27公开/公告号CN105277169A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01C3/00IPC分类号G;0;1;C;3;/;0;0查看分类表>
申请人安霸半导体技术(上海)有限公司申请人地址
上海市浦东新区芳甸路1088号紫竹国际大厦9楼 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人安霸半导体技术(上海)有限公司当前权利人安霸半导体技术(上海)有限公司
发明人薛振武
代理机构上海信好专利代理事务所(普通合伙)代理人张妍;张静洁
摘要
一种基于图像分割的双目测距方法,首先根据物体将左图像和右图像分割成各个区域,再根据亮度﹑宽度﹑高度﹑像素数量﹑水平距离﹑垂直距离对左图像和右图像分割得到的区域进行匹配,找到同一物体在左右图像中对应的区域,最后根据匹配区域的边缘点的水平距离计算视差。本发明分割得到的区域的边缘含有丰富的纹理信息,可以根据边缘的位置计算得到该区域的视差,能够得到紧密的视差图,对于含有大面积低纹理区域的场景尤其有效。

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