DSP芯片测试装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010781047.1
IPC分类号：G01R31/3181
申请日期：
2020-08-05
申请人：
广东省新一代通信与网络创新研究院

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著录项信息

专利名称	DSP芯片测试装置及方法
申请号	CN202010781047.1	申请日期	2020-08-05
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-12-01	公开/公告号	CN112014726A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/3181 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕 G01R31/3181 性能测试（G01R 31/3177优先）〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;8;1查看分类表>
申请人	广东省新一代通信与网络创新研究院	申请人地址	广东省广州市高新技术产业开发区科学城海云路88号201室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	广东省新一代通信与网络创新研究院	当前权利人	广东省新一代通信与网络创新研究院
发明人	苏锋;曹建业;甘浩;吴思谦;钟俊龙
代理机构	广州三环专利商标代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种DSP芯片测试装置及方法，针对目前DSP芯片测试方法中存在的测试效率低和测试过程繁琐的问题，提供了一种DSP芯片自动化测试实现装置。基于此装置，可以实现在DSP芯片上电的一次测试中随时改变测试参数和测试指令。与目前常用的DSP芯片测试方法相比，DSP芯片测试装置在完成基本DSP芯片测试功能的基础上，增加了FPGA与服务器的数据传输通道，使测试工作与各项参数的配置更加灵活。通过服务器操作界面，测试过程中可以实时配置测试参数和在线更新测试指令而无需修改FPGA测试工程代码。

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