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分光测量用压片、其制造方法和分光测量方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200880106495.9
  • IPC分类号:G01N21/35;G01N1/36;G01N21/01
  • 申请日期:
    2008-09-25
  • 申请人:
    爱科来株式会社;国立大学法人东北大学
著录项信息
专利名称分光测量用压片、其制造方法和分光测量方法
申请号CN200880106495.9申请日期2008-09-25
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2010-08-11公开/公告号CN101802593A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N21/35IPC分类号G;0;1;N;2;1;/;3;5;;;G;0;1;N;1;/;3;6;;;G;0;1;N;2;1;/;0;1查看分类表>
申请人爱科来株式会社;国立大学法人东北大学申请人地址
日本京都府;日本京都府 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人爱科来株式会社,国立大学法人东北大学当前权利人爱科来株式会社,国立大学法人东北大学
发明人冈本雅司;小川雄一
代理机构北京三友知识产权代理有限公司代理人黄纶伟
摘要
本发明提供一种分光测量用压片、其制造方法和分光测量方法,分光测量用压片(4)具有在通过压缩成形而成的透光性材料的第1粉末(41)中分散混入有具有亲水性的非水溶性的第2粉末(42)的结构。分光测量用试样(40)例如为粉末状,被分散混入第1粉末(41)和第2粉末(42)中。试样(40)是水合物的情况下,第2粉末(42)发挥促进试样(40)脱水的作用,能够提前得到试样(40)的水合状态消失状态下的稳定的光谱数据,其结果,能提前且准确地进行试样(40)的识别等处理。

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