一种时序测试电路

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201020190362.9
IPC分类号：G01R29/00;G08G5/00
申请日期：
2010-05-10
申请人：
北京航天自动控制研究所

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种时序测试电路
申请号	CN201020190362.9	申请日期	2010-05-10
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;0;0;;;G;0;8;G;5;/;0;0查看分类表>
申请人	北京航天自动控制研究所	申请人地址	北京市142信箱402分箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航天自动控制研究所	当前权利人	北京航天自动控制研究所
发明人	邱靖宇;黄波;曹帮林;刘波;吴灿;刘林梅;赵雅丽;尹刚;周志久
代理机构	中国航天科技专利中心	代理人	臧春喜

摘要

一种时序测试电路，包括电阻R1、R2、R3、电容C1和光电耦合器U1，被测时序信号经限流电阻R1，再经电阻R2和电容C1并联形成的RC滤波器引至光电耦合器U1的输入端，光电耦合器U1的输出端正端串联电阻R3后接电源Vcc，光电耦合器U1输出端正端直接引出作为测试信号至测试计算机的I/O口进行采样，光电耦合器U1输出端负端接地。相比现有的时序测试方法，本实用新型解决了时序无法测试的问题，同时采用光电耦合器对时序信号进行光电隔离后再进行测试，保证了后端采集到的测试信号的有效性和可靠性，同时，光耦的输入端并联RC滤波器，有效减少时序测试线路上的干扰，提高了时序测试电路的可靠性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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