电控光散射材料与器件时域响应特性测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201510769572.0
IPC分类号：G01N33/00;G01R31/00
申请日期：
2015-11-12
申请人：
湖北大学

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著录项信息

专利名称	电控光散射材料与器件时域响应特性测试方法
申请号	CN201510769572.0	申请日期	2015-11-12
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2016-02-24	公开/公告号	CN105353088A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N33/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N33/00 利用不包括在G01N 1/00至G01N 31/00组中的特殊方法来研究或分析材料	IPC分类号	G;0;1;N;3;3;/;0;0;;;G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	湖北大学	申请人地址	湖北省武汉市武昌区友谊大道368号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	湖北大学	当前权利人	湖北大学
发明人	王龙海;王世敏;章天金;刘锋;何夕云
代理机构	武汉帅丞知识产权代理有限公司	代理人	朱必武;曾祥斌

摘要

本发明公开一种电控光散射材料与器件时域响应特性测试方法，包括测试样品制备、光路调节、脉冲电源驱动、获取并存储“电压—时间”关系曲线以及，分别计算散光光强变化与时间的时域响应特性、散光时域响应特性与外加电场关系。所用仪器包括：平行光单色激光器、超快脉冲驱动电源、样品支架、可变光阑、光电探测器、示波器、挡板和聚光凸透镜。其理论依据是：光电探测器输出电压与照射到探测面上的光强度成正比，探测器输出电压随时间变化关系直接反映光强随时间变化关系，结合测试时对测试系统中器件及传输网络响应时间误差校正，得出相应外加电压下电控光散射材料或器件的散光光强变化与时间的时域响应特性以及响应时间与电场强度间关系。

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