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一种静力触探装置及静力触探方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202011166508.0
  • IPC分类号:E02D1/00
  • 申请日期:
    2020-10-27
  • 申请人:
    上海旻悦勘察设计有限公司
著录项信息
专利名称一种静力触探装置及静力触探方法
申请号CN202011166508.0申请日期2020-10-27
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-02-02公开/公告号CN112301993A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号E02D1/00IPC分类号E;0;2;D;1;/;0;0查看分类表>
申请人上海旻悦勘察设计有限公司申请人地址
上海市奉贤区联合北路215号第5幢2445室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海旻悦勘察设计有限公司当前权利人上海旻悦勘察设计有限公司
发明人卓路路;牛天河;董亚;秦康
代理机构北京维正专利代理有限公司代理人谢绪宁;薛赟
摘要
本申请涉及一种静力触探装置及静力触探方法,其包括触探机体、探测杆、固定在探测杆底端的探头以及用于接收探测信号的接收器,触探机体的底部固设有底座,底座底部的四角位置均设置有支腿,底座的内部设置有用于调节支腿从底座底部伸出长度的调节组件,调节组件包括一个主动齿轮和四个从动齿轮,支腿从从动齿轮的内部穿过且与从动齿轮螺纹连接,支腿沿着自身长度方向开设有滑动槽,底座的底部固设有限位块,限位块位于滑动槽内沿着支腿的长度方向与支腿滑动连接,在主动齿轮和从动齿轮之间设置有用于带动主动齿轮和从动齿轮同步转动的连接件,以及用于将连接件从主动齿轮和从动齿轮之间分离的移动件。本申请具有提高对基土静力触探准确性的效果。

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