专利名称 | 用精密反射仪同时测量聚合物薄膜折射率和厚度的方法 | ||
申请号 | CN200410084315.5 | 申请日期 | 2004-11-18 |
法律状态 | 权利终止 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 2005-04-13 | 公开/公告号 | CN1605855 |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | G01N21/41 | IPC分类号 | 查看分类表> |
申请人 | 上海交通大学 | 申请人地址 |
变更
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权利人 | 上海交通大学 | 当前权利人 | |
发明人 | 王义平;陈建平;李新碗 | ||
代理机构 | 上海交达专利事务所 | 代理人 | 王锡麟;王桂忠 |
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