基于Y型腔正交偏振激光器的透明介质折射率测量方法及装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201110342117.4
IPC分类号：G01N21/21
申请日期：
2011-11-02
申请人：
中国人民解放军国防科学技术大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于Y型腔正交偏振激光器的透明介质折射率测量方法及装置
申请号	CN201110342117.4	申请日期	2011-11-02
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-06-20	公开/公告号	CN102507450A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/21 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/21 影响偏振的性质（G01N 21/19优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;2;1查看分类表>
申请人	中国人民解放军国防科学技术大学	申请人地址	湖南省长沙市砚瓦池正街47号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国人民解放军国防科学技术大学	当前权利人	中国人民解放军国防科学技术大学
发明人	龙兴武;肖光宗;张斌
代理机构	湖南省国防科技工业局专利中心	代理人	冯青

摘要

本发明涉及一种基于Y型腔正交偏振激光器的透明介质折射率测量方法及装置，由Y型腔正交偏振激光器、样品池、工作点选择与控制单元和信号采集与处理单元组成。透明介质抽入或抽出样品池后，Y型腔正交偏振激光器的P子段的折射率会发生改变，从而导致S子腔和P子腔光学长度差的变化，Y型腔正交偏振激光器中S偏振光和P偏振光的拍频频差也将发生变化，该拍频频差的变化值与透明介质的折射率成正比。本发明具有高分辨率、高线性度、直接数字式输出、结构简单、操作方便、快捷等特点。本发明还可用于透明介质折射率的实时监测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供