一种新型光谱仪

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201521145034.6
IPC分类号：G01J3/28;G01J3/02
申请日期：
2015-12-31
申请人：
天津纳正科技有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种新型光谱仪
申请号	CN201521145034.6	申请日期	2015-12-31
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J3/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J3/00 光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色〔4〕 G01J3/28 光谱测试（应用滤色器的入G01J 3/51）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;J;3;/;2;8;;;G;0;1;J;3;/;0;2查看分类表>
申请人	天津纳正科技有限公司	申请人地址	天津市滨海新区心贻湾1-1-3005 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	天津纳正科技有限公司	当前权利人	天津纳正科技有限公司
发明人	蔡元学
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型属于光谱仪领域且公开了一种新型光谱仪，包括光谱仪内部、聚焦镜、阵列检测器、光栅、准直镜、光栅接头、入射光线、入射狭缝、干涉仪、光谱仪光学系统、光电传感器、外围处理器、数据采集卡、工控机处理平台、后台处理程序、反馈控制电路、反馈控制镜和折射光线，所述光线经过光栅接头到达准直镜折射到光栅折射到聚焦镜又折射到阵列检测器，所述光谱仪光学系统包括干涉仪和光电传感器，本实用新型通过改变光谱仪的光源具有了耗能少、重量轻、抗震性强、使用寿命长等特点，利用光焦度衡量像散大小，使得利用柱面镜校正像散时，其位置不受限制，可根据结构的需求任意摆放。成像光谱仪像面倾角的确定方法，实现了宽波段的像差校正。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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