集成电路绕线质量分析方法、装置、电子设备和存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN202110563823.5
IPC分类号：G06F30/398;G06F30/394;G06F30/392
申请日期：
2021-05-24
申请人：
海光信息技术股份有限公司

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著录项信息

专利名称	集成电路绕线质量分析方法、装置、电子设备和存储介质
申请号	CN202110563823.5	申请日期	2021-05-24
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-08-20	公开/公告号	CN113283212A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F30/398	IPC分类号	G;0;6;F;3;0;/;3;9;8;;;G;0;6;F;3;0;/;3;9;4;;;G;0;6;F;3;0;/;3;9;2查看分类表>
申请人	海光信息技术股份有限公司	申请人地址	天津市华苑产业区海泰西路18号北2-204工业孵化-3-8 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	海光信息技术股份有限公司	当前权利人	海光信息技术股份有限公司
发明人	王洪生;梁洪昌
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	彭久云;侯鉴玻

摘要

一种集成电路的绕线质量分析方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。该绕线质量分析方法包括：从集成电路的版图中获取至少一个目标走线区域；确定经过至少一个目标走线区域中每个目标走线区域的绕线组，绕线组包括至少一条绕线；以及针对每个目标走线区域，计算绕线组的迂回程度表征参数，以根据迂回程度表征参数确定集成电路的绕线质量。该方法能够降低分析集成电路的绕线质量所消耗的时间成本和人力成本，提高绕线质量分析的量化程度，并且提升绕线质量分析的准确性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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