加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

集成电路及制造具有金属栅极电极的集成电路的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201410057501.3
  • IPC分类号:H01L21/8238;H01L21/28;H01L27/092
  • 申请日期:
    2014-02-20
  • 申请人:
    格罗方德半导体公司;国际商业机器公司
著录项信息
专利名称集成电路及制造具有金属栅极电极的集成电路的方法
申请号CN201410057501.3申请日期2014-02-20
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2014-08-27公开/公告号CN104009003A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/8238
?
IPC结构图谱:
IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;8;2;3;8;;;H;0;1;L;2;1;/;2;8;;;H;0;1;L;2;7;/;0;9;2查看分类表>
申请人格罗方德半导体公司;国际商业机器公司申请人地址
英属开曼群岛大开曼岛 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人格罗方德半导体公司,国际商业机器公司当前权利人格罗方德半导体公司,国际商业机器公司
发明人谢瑞龙;朴灿柔;项·波诺斯
代理机构北京戈程知识产权代理有限公司代理人程伟;王锦阳
摘要
本发明涉及集成电路及制造具有金属栅极电极的集成电路的方法,其提供的是集成电路及用于制造集成电路的方法。在示例性实施例中,用于制造集成电路的方法包括在半导体基板上方提供牺牲栅极结构。该牺牲栅极结构包括两间隔件及介于该两间隔件之间的牺牲栅极材料。该方法使介于该两间隔件之间的该牺牲栅极材料的一部分形成凹部。蚀刻该两间隔件的上方区域并使用该牺牲栅极材料当作掩模。该方法包含移除该牺牲栅极材料的留存部位并暴露该两间隔件的下方区域。在该两间隔件的下方区域之间沉积第一金属。在该两间隔件的上方区域之间沉积第二金属。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供