一种物理版图仿真自动控制寄生参数提取精度的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201010236533.1
IPC分类号：G06F17/50
申请日期：
2010-07-26
申请人：
中国科学院微电子研究所

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著录项信息

专利名称	一种物理版图仿真自动控制寄生参数提取精度的方法
申请号	CN201010236533.1	申请日期	2010-07-26
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2012-02-01	公开/公告号	CN102339341A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F17/50 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F17/00 特别适用于特定功能的数字计算设备或数据处理设备或数据处理方法〔6〕 G06F17/50 计算机辅助设计（静态存储的测试电路的设计入G11C 29/54）〔6，8〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;7;/;5;0查看分类表>
申请人	中国科学院微电子研究所	申请人地址	北京市朝阳区北土城西路3号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院微电子研究所	当前权利人	中国科学院微电子研究所
发明人	吴玉平;陈岚;叶甜春
代理机构	北京市德权律师事务所	代理人	王建国

摘要

本发明公开一种物理版图仿真自动控制寄生参数提取精度的方法，属于集成电路设计自动化领域。本发明利用电路级前仿真结果作为输入，分析出信号的变化频率和变化幅度，再对器件和线网进行分类，确定敏感线网和敏感器件及主要噪声源器件和噪声源线网，利用LVS原理定位器件和物理线网，据此对提取区域的精度控制进行分类，从而支持对不同区域采取不同的精度控制提取寄生参数。本发明可有效地缩小计算规模、提高寄生参数提取精度和提高后续电路仿真速度，又不失后续电路仿真的准确性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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