一种测试电磁辐射强度的装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200810141776.X
IPC分类号：G01R29/08;H04B17/00
申请日期：
2008-08-28
申请人：
深圳华为通信技术有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种测试电磁辐射强度的装置
申请号	CN200810141776.X	申请日期	2008-08-28
法律状态	驳回	申报国家	暂无
公开/公告日	2009-01-28	公开/公告号	CN101354412
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置 G01R29/08 电磁场特性的测量	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;0;8;;;H;0;4;B;1;7;/;0;0查看分类表>
申请人	深圳华为通信技术有限公司	申请人地址	广东省深圳市龙岗区坂田华为基地B区2号楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳华为通信技术有限公司	当前权利人	深圳华为通信技术有限公司
发明人	邹杰;狄伟;张飞
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种测试电磁辐射强度的装置，包括：天线，用于接收移动终端的发射信号；带通滤波器，用于从所述接收到的发射信号中滤除干扰；整流器、低通滤波器，对前级输出信号进行整流和低通滤波后获得模拟信号；和输出模块，用于输出上述获得模拟信号。本申请采用测试的手段，另外布设天线和射频电路，可以准确获得SAR值。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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