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一种太赫兹波波长检测装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201710259258.7
  • IPC分类号:G01J9/00
  • 申请日期:
    2017-04-20
  • 申请人:
    清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
著录项信息
专利名称一种太赫兹波波长检测装置
申请号CN201710259258.7申请日期2017-04-20
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2018-11-02公开/公告号CN108731824A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01J9/00IPC分类号G;0;1;J;9;/;0;0查看分类表>
申请人清华大学;鸿富锦精密工业(深圳)有限公司申请人地址
北京市海淀区清华大学清华-富士康纳米科技研究中心401室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人清华大学,鸿富锦精密工业(深圳)有限公司当前权利人清华大学,鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
发明人张凌;柳鹏;吴扬;范守善
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明涉及一种太赫兹波波长检测装置,其包括;一太赫兹接收装置,其用于接收太赫兹波;一调制装置,其用于调制太赫兹波,所述调制装置包括一碳纳米管结构,且该碳纳米管结构包括多个沿同一方向定向延伸的碳纳米管;一与该调制装置连接的移动装置,其用于控制所述调制装置,使该调制装置设置于该太赫兹波接收装置的入射面上或偏离该入射面;以及一与该太赫兹波接收装置连接的计算机,所述计算机内部存储有太赫兹波对该碳纳米管结构的穿透率与波数的关系数据作为第一标准数据,所述计算机用于计算被检测的太赫兹波对该调制装置的穿透率曲线与波数的关系,并将计算结果与所述第一标准数据进行比对从而获得该被检测的太赫兹波的波长范围。

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