一种温度检测设备的校准方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010663830.8
IPC分类号：G01K15/00
申请日期：
2020-07-10
申请人：
中国计量科学研究院

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种温度检测设备的校准方法
申请号	CN202010663830.8	申请日期	2020-07-10
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-10-16	公开/公告号	CN111780892A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01K15/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01K 温度测量；热量测量；未列入其他类目的热敏元件（辐射高温测定法入G01J 5/00） G01K15/00 温度计的测试或校准	IPC分类号	G;0;1;K;1;5;/;0;0查看分类表>
申请人	中国计量科学研究院	申请人地址	北京市朝阳区北三环东路18号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国计量科学研究院	当前权利人	中国计量科学研究院
发明人	谢一航;代彩红;王彦飞;吴志峰;李玲;贺书芳
代理机构	北京超凡宏宇专利代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	何少岩

摘要

本申请涉及设备校准技术领域，尤其涉及一种温度检测设备的校准方法及装置。本申请通过获取在校准实验中通过温度检测设备对物质进行检测得到的实验熔化温度；获取所述物质对应的标准熔化温度；根据所述标准熔化温度以及所述实验熔化温度，对所述温度检测设备进行校准，得到校准后的温度检测设备；其中，所述校准后的温度检测设备用于在实际实验中对物质进行温度检测，通过对物质的标准熔化温度与实验熔化温度进行对应，达到对温度检测设备进行校准的目的。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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