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自聚焦光纤透镜磨粒检测仪

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN03237276.0
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2003-09-03
  • 申请人:
    武汉理工大学
著录项信息
专利名称自聚焦光纤透镜磨粒检测仪
申请号CN03237276.0申请日期2003-09-03
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人武汉理工大学申请人地址
湖北省武汉市洪山区珞狮路122号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人武汉理工大学当前权利人武汉理工大学
发明人严新平;吕植勇;高慧良;黄俊;姜德生
代理机构湖北武汉永嘉专利代理有限公司代理人胡建平
摘要
本实用新型涉及一种磨粒检测仪。自聚焦光纤透镜磨粒检测仪,它包括光学耦合装置,光学耦合装置主要由灯(2)、透镜(3)、数码照相机或摄相机(4)、三棱镜(5)组成,其特征是:光学耦合装置连接一物镜装置,物镜装置包括自聚焦光纤(1)、电磁线圈(6)、发光二极管(8)、电源(10)、电源开关(11),自聚焦光纤(1)上绕有电磁线圈(6),电磁线圈(6)、发光二极管(8)分别由电源开关(11)与电源(10)相连接,在浸入油液的自聚焦光纤(1)的底端与发光二极管(8)之间留有间隙构成观察磨粒的油槽,物镜装置的自聚焦光纤(1)上端位于光学耦合装置的三棱镜(5)斜边正前方。它具有油液中磨粒在线检测的特点。

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