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CPU温度测试头短路保护机构

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN201521081860.9
  • IPC分类号:H01H85/00;G08B5/38
  • 申请日期:
    2015-12-23
  • 申请人:
    超威半导体技术(中国)有限公司
著录项信息
专利名称CPU温度测试头短路保护机构
申请号CN201521081860.9申请日期2015-12-23
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01H85/00IPC分类号H;0;1;H;8;5;/;0;0;;;G;0;8;B;5;/;3;8查看分类表>
申请人超威半导体技术(中国)有限公司申请人地址
江苏省苏州市工业园区苏桐路88号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人超威半导体技术(中国)有限公司当前权利人超威半导体技术(中国)有限公司
发明人孙建民
代理机构南京苏科专利代理有限责任公司代理人陈忠辉
摘要
本实用新型揭示了CPU温度测试头短路保护机构,CPU温度测试头通过一接地线接地,接地线并联有一报警机构,接地线内具有保险丝。本实用新型在传统的CPU温度测试头上增加了短路保护机构,当CPU温度测试头的加热器破损造成短路时,短路保护机构的报警机构能起到保护提醒功能,避免火灾的发生;短路保护机构结构巧妙,成本低廉,保护提醒及时。

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