具有用于独立测试多个DUT的多个基于FPGA的硬件加速器块的测试体系架构

发明专利有效专利

申请号：
CN201380075596.5
IPC分类号：G01R31/319
申请日期：
2013-02-28
申请人：
爱德万测试公司

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专利名称	具有用于独立测试多个DUT的多个基于FPGA的硬件加速器块的测试体系架构
申请号	CN201380075596.5	申请日期	2013-02-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-03-02	公开/公告号	CN105378494A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/319 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕 G01R31/3181 性能测试（G01R 31/3177优先）〔6〕 G01R31/319 测试器硬件，即输出处理电路〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;9查看分类表>
申请人	爱德万测试公司	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	爱德万测试公司	当前权利人	爱德万测试公司
发明人	杰拉德·陈;埃里克·库石尼克;梅-梅·苏
代理机构	北京东方亿思知识产权代理有限责任公司	代理人	李晓冬

摘要

本发明提供了能够执行对半导体器件进行测试的自动测试设备(ATE)。该ATE包括计算机系统，其包括通信地耦接至测试仪处理器的系统控制器。该系统控制器可操作为向处理器发送指令，并且处理器可操作为根据指令生成用于协调对多个被测器件(DUT)的测试的命令和数据。该ATE进一步包括通过总线通信地耦接至处理器的多个FPGA组件。每个FPGA组件包括至少一个硬件加速器电路，其可操作为在内部生成对处理器透明的用于测试DUT之一的命令和数据。另外，测试仪处理器被配置成在若干功能模式之一下操作，其中功能模式被配置成在处理器与FPGA组件之间分配用于生成命令和数据的功能。

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