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半导体存储装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201080001799.6
  • IPC分类号:G11C11/417;G11C11/4074;G11C11/41;G11C11/418;H01L21/8244;H01L27/11;H03K19/0185
  • 申请日期:
    2010-02-10
  • 申请人:
    松下电器产业株式会社
著录项信息
专利名称半导体存储装置
申请号CN201080001799.6申请日期2010-02-10
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2011-05-11公开/公告号CN102057437A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G11C11/417IPC分类号G;1;1;C;1;1;/;4;1;7;;;G;1;1;C;1;1;/;4;0;7;4;;;G;1;1;C;1;1;/;4;1;;;G;1;1;C;1;1;/;4;1;8;;;H;0;1;L;2;1;/;8;2;4;4;;;H;0;1;L;2;7;/;1;1;;;H;0;3;K;1;9;/;0;1;8;5查看分类表>
申请人松下电器产业株式会社申请人地址
日本神奈川县 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人株式会社索思未来当前权利人株式会社索思未来
发明人蓝原智之;白滨政则;山上由展;车田希总;铃木利一
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人汪惠民
摘要
本发明提供一种半导体存储装置,具备:被配置在字线与位线的交点的存储器单元(100)、与位线连接的预充电电路(101)、由写入控制信号控制的列选择电路(102)、和作为写入电路而设置的箝位电路(103A)。箝位电路(103A)具有:将被选择的位线的电位控制在第一电位(例如0V)的晶体管(QN17)、和将该被选择的位线的电位控制在比第一电位低的第二电位(例如负电位)的可变电容元件(C11)。由于采用了可变电容元件(C11),所以在电源电压变高的情况下,基于元件电容减少,来抑制从第一电位向第二电位的下降量。

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