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一种提高高斯信号分析精确度的方法及系统

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110231058.7
  • IPC分类号:G06K9/00;G06F17/10;G01T1/36
  • 申请日期:
    2021-03-02
  • 申请人:
    四川新先达测控技术有限公司
著录项信息
专利名称一种提高高斯信号分析精确度的方法及系统
申请号CN202110231058.7申请日期2021-03-02
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2021-06-22公开/公告号CN113011287A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G06K9/00IPC分类号G;0;6;K;9;/;0;0;;;G;0;6;F;1;7;/;1;0;;;G;0;1;T;1;/;3;6查看分类表>
申请人四川新先达测控技术有限公司申请人地址
四川省成都市成华区龙潭工业园成宏路26号2栋9楼1号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人四川新先达测控技术有限公司当前权利人四川新先达测控技术有限公司
发明人周建斌;喻杰
代理机构成都为知盾专利代理事务所(特殊普通合伙)代理人李汉强
摘要
本发明公开了一种提高高斯信号分析精确度的方法及系统。本发明中,一种提高高斯信号分析精确度的方法,包括以下步骤:S1:采用正向R‑C逆变换和反向R‑C逆变换对高斯信号进行处理;S2:对S1得到的信号进行取差处理;S3:对S2取得的信号进行取绝对值处理。本发明还包括一种提高高斯信号分析精确度的系统,其包括预处理模块和反卷积模块,反卷积模块有3个,呈级联关系,当原始信号输入到系统中的时候,首先会经过预处理模块的处理,再经过3个反卷积模块的处理。本发明可以将高斯信号反卷积为冲击信号,进而可以方便地对实验数据进行分析研究;在实际情况中,由于还存在噪声的影响,故在对信号进行反卷积之前还需要进行预处理。

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