一种SF<sub>6</sub>泄漏的红外探测显示系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201110261087.4
IPC分类号：G01M3/04
申请日期：
2011-09-06
申请人：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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专利名称	一种SF<sub>6</sub>泄漏的红外探测显示系统
申请号	CN201110261087.4	申请日期	2011-09-06
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-05-02	公开/公告号	CN102435397A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M3/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M3/00 结构部件的流体密封性的测试 G01M3/02 应用流体或真空 G01M3/04 通过在漏泄点检测流体的出现	IPC分类号	G;0;1;M;3;/;0;4查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	申请人地址	吉林省长春市东南湖大路3888号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人	毕国玲;赵建;许文斌;隋龙;张艳超
代理机构	长春菁华专利商标代理事务所	代理人	陶尊新

摘要

一种SF6泄漏的红外探测显示系统，涉及电子学领域，它解决了现有探测显示系统采用DSP实现高速图像处理的同时需要借助PC机显示完成，无法满足系统独立性和便携性的要求，并且现有SF6气体泄露的检测方法的计算量大、复杂度高，采用帧间差分法检测存在漏检、不准确等问题，采用ARM强大的控制能力结合DSP高速图像处理能力，在诊断SF6泄漏的现场进行红外视频图像的实时采集与显示，将采集的多帧红外序列图像进行预处理、模板匹配、取平均值、差分倍增、自适应阈值分割、形态学开运算及中值滤波算法处理，并通过伪彩色将泄漏的SF6气体清晰地显示在系统的LCD屏上。本发明能够高效准确地实现SF6泄漏的探测和显示。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	JP3776681B2	暂无	2000-06-06	Gas monitor有效专利	ホーチキ株式会社;奥山雅則
2	CN201322680Y	暂无	2008-11-17	激光成像SF6气体泄漏定位系统失效专利	浙江红相科技有限公司

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
1	CN103388747A	2012-05-08	2012-05-08	气体输送管道监测系统有效专利	上海化学工业区公共管廊有限公司
2	CN103217397A	2013-01-23	2013-01-23	基于红外图像处理的SF6气体检测方法无效专利	山西省电力公司晋城供电分公司;国家电网公司;北京兴汇同维电力科技有限公司
3	CN103353380A	2013-07-22	2013-07-22	阿基米德螺旋线推扫滤光差分气体泄漏红外成像方法有效专利	北京理工大学
4	CN103388747B	2012-05-08	2012-05-08	气体输送管道监测系统有效专利	上海化学工业区公共管廊有限公司
5	CN103353380B	2013-07-22	2013-07-22	阿基米德螺旋线推扫滤光差分气体泄漏红外成像方法有效专利	北京理工大学

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