阿基米德螺旋线推扫滤光差分气体泄漏红外成像方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310309389.3
IPC分类号：G01M3/04;G01N21/35;G02B5/20
申请日期：
2013-07-22
申请人：
北京理工大学

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专利名称	阿基米德螺旋线推扫滤光差分气体泄漏红外成像方法
申请号	CN201310309389.3	申请日期	2013-07-22
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-10-16	公开/公告号	CN103353380A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M3/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M3/00 结构部件的流体密封性的测试 G01M3/02 应用流体或真空 G01M3/04 通过在漏泄点检测流体的出现	IPC分类号	G;0;1;M;3;/;0;4;;;G;0;1;N;2;1;/;3;5;;;G;0;2;B;5;/;2;0查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	王岭雪;薛唯;蔡毅;罗秀丽;唐璟;张世玉;高岳;张小水;王书潜
代理机构	北京理工大学专利中心	代理人	高燕燕;仇蕾安

摘要

本发明公开了一种阿基米德螺旋线推扫滤光差分气体泄漏红外成像方法，适用于红外焦平面探测器，包括如下具体步骤：1,设计包括背景滤光片、泄漏气体滤光片以及两片挡光片的阿基米德螺旋线滤光盘；滤光片和挡光片交替布设；2,利用该滤光盘推扫探测器，获得泄漏气体图像、背景图像和挡光图像A、B；3,将泄漏气体图像分别与A和B差分，差分结果取平均为去除盲元的泄漏气体图像；将背景图像分别与A和B差分，差分结果取平均为去除盲元的背景图像；4,使用A和B计算非均匀校正模型，对3中结果进行非均匀性校正；5,将校正后的泄漏气体图像和背景图像进行差分运算，获得最终图像。本发明适用于泄漏气体的差分红外成像。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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