一种空间圆几何参数的视觉测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN03142659.X
IPC分类号：G01B11/00;G01B11/08;G01B11/03;G01B11/24;G01D5/26;G06T15/00
申请日期：
2003-06-11
申请人：
北京航空航天大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种空间圆几何参数的视觉测量方法
申请号	CN03142659.X	申请日期	2003-06-11
法律状态	权利终止	申报国家	暂无
公开/公告日	2005-01-19	公开/公告号	CN1566900
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;B;1;1;/;0;8;;;G;0;1;B;1;1;/;0;3;;;G;0;1;B;1;1;/;2;4;;;G;0;1;D;5;/;2;6;;;G;0;6;T;1;5;/;0;0查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	黄石邦柯科技股份有限公司	当前权利人	黄石邦柯科技股份有限公司
发明人	周富强;张广军
代理机构	中国航空专利中心	代理人	梁瑞林

摘要

本发明属于测量技术领域，涉及对空间圆几何参数非接触测量方法的改进。本发明基于立体视觉的空间圆多几何参数的非接触高精度同时测量方法，利用极线约束求出圆边缘的实际三维空间坐标，采用基于空间圆最优拟合求取空间圆几何参数。本发明方法减小了空间圆透视投影形状畸变引起的测量误差，提高了基于视觉方法的圆几何参数的测量精度。当被测空间圆所在平面与摄像机图像平面成角度大于50°时，空间圆几何中心测量的3σ重复性精度优于±0.01mm。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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