一种计量芯片的抗干扰检测系统及计算机可读存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN202110939875.8
IPC分类号：G01R31/28
申请日期：
2021-08-17
申请人：
湖南省计量检测研究院

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种计量芯片的抗干扰检测系统及计算机可读存储介质
申请号	CN202110939875.8	申请日期	2021-08-17
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2021-09-17	公开/公告号	CN113406483A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	湖南省计量检测研究院	申请人地址	湖南省长沙市雨花区香樟路396号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	湖南省计量检测研究院	当前权利人	湖南省计量检测研究院
发明人	向德;李庆先;刘良江;朱宪宇;王晋威;刘青;左从瑞;王柠莎;熊婕
代理机构	北京清控智云知识产权代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	马肃

摘要

本发明提供了一种计量芯片的抗干扰检测系统及计算机可读存储介质，包括待测模块、信号输入模块、干扰模块、信号输出模块、标准计量模块和对比模块，所述待测模块提供待测信号，所述信号输入模块输入端和所述待测模块连接，所述信号输入模块输出端分别连接至计量芯片和所述标准计量模块，所述干扰模块装于计量芯片外侧用于提供干扰因素，所述信号输出模块输入端分别与计量芯片和所述标准计量模块连接，所述信号输出模块输出端与所述对比模块连接，所述对比模块通过分析接收的两个信号差别得到计量芯片的抗干扰能力。本发明通过分析在各种干扰情况下计量芯片的输出值与标准计量模块输出值之间的关系得到其抗干扰能力，涵盖范围广，适用性强。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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