一种电子设备综合环境加速贮存试验装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201310281889.0
IPC分类号：G01R31/00;G01R1/04
申请日期：
2013-07-05
申请人：
北京航空航天大学

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著录项信息

专利名称	一种电子设备综合环境加速贮存试验装置
申请号	CN201310281889.0	申请日期	2013-07-05
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2013-10-09	公开/公告号	CN103344862A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	北京航空航天大学	申请人地址	北京市海淀区学院路37号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京航空航天大学	当前权利人	北京航空航天大学
发明人	姚军;赵彦琳;张惠
代理机构	北京慧泉知识产权代理有限公司	代理人	王顺荣;唐爱华

摘要

一种电子设备综合环境加速贮存寿命试验装置，它包括温度湿度综合试验箱、控制微机和温湿测试仪三部分；该温度湿度综合试验箱，其箱壳外箱采用不锈钢板，内箱采用耐高低温不锈钢板，内箱与外箱形成的保温层采用高密度玻璃纤维棉或石棉板。该控制微机和温湿测试仪都选用常规型号；该装置具有稳定平衡的加热加湿能力，可进行高精确、高稳定的恒温恒湿控制；确保设备和人身的安全；设备温控控湿部分，采用可编程温湿度温控仪，可模拟高温高湿/高温低湿/低温高湿/高温/低温等不同的环境条件。基于可靠性增长模型的加速贮存寿命评估方法避免了加速模型的选择，主要针对步降应力加速寿命试验，对于组成及失效机理复杂的电子设备有较好的适应性。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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