总光通量测量装置

发明专利有效专利

申请号：
CN200680038368.0
IPC分类号：G01J1/02
申请日期：
2006-04-12
申请人：
松下电器产业株式会社

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	总光通量测量装置
申请号	CN200680038368.0	申请日期	2006-04-12
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2008-10-15	公开/公告号	CN101287974
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J1/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J 3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J 5/00） G01J1/02 零部件	IPC分类号	G;0;1;J;1;/;0;2查看分类表>
申请人	松下电器产业株式会社	申请人地址	日本大阪府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	大塚电子株式会社	当前权利人	大塚电子株式会社
发明人	大久保和明
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	汪惠民

摘要

本发明提供一种光学测量装置，具备：平面镜(3)，其具有作为光入射窗或光源安装部(5)之功能的中央开口部、和可以由光检测器(6)进行测量的观测窗(6’)；和积分半球(2)，其在平面镜(3)的中央开口部内具有曲率半径的中心，且内壁面具有光漫反射面(1)的功能，平面镜(3)和积分半球(2)在内部形成积分空间。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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