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基于宽频磁波反射通路参数辨识的检测与成像方法及装置

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201410740866.6
  • IPC分类号:G01N27/72;G01N27/82
  • 申请日期:
    2014-12-05
  • 申请人:
    广州丰谱信息技术有限公司
著录项信息
专利名称基于宽频磁波反射通路参数辨识的检测与成像方法及装置
申请号CN201410740866.6申请日期2014-12-05
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2015-05-27公开/公告号CN104655714A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N27/72IPC分类号G;0;1;N;2;7;/;7;2;;;G;0;1;N;2;7;/;8;2查看分类表>
申请人广州丰谱信息技术有限公司申请人地址
广东省广州市天河东路242号广州国家高新技术企业孵化基地 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人广州丰谱信息技术有限公司当前权利人广州丰谱信息技术有限公司
发明人韦岗;马碧云;曹燕;刘娇蛟
代理机构广州润禾知识产权代理事务所(普通合伙)代理人林伟斌
摘要
本发明公开一种基于宽频磁波反射通路参数辨识的检测与成像方法及装置。该方法以宽频磁波为载体,将磁波反射所经历路径视为反射通路,结合不同材质的电磁参数特征,通过对传递函数及其各种变化形式的反演与融合识别被测物体的内部分布特征,实现无损检测与成像。装置包括负责检测信号产生、磁波发射与反射磁波接收的检测前端,负责控制参数设置、接收信号处理,磁波反射通路反演、融合和成像显示的信号处理后端,两者以有线/无线相连接,采用软件处理提高检测精度,便于设备小型化。本发明实施中无需耦合剂、强磁场、放射源,无射频辐射,具有非接触式、高精度、成本低等优点,在地下管道检测、路桥检测、工农业及医学等领域有广泛应用前景。

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