基于光路的大尺寸支撑结构形变量测量装置及测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202011201872.6
IPC分类号：G01B11/16
申请日期：
2020-11-02
申请人：
南京信息工程大学滨江学院

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著录项信息

专利名称	基于光路的大尺寸支撑结构形变量测量装置及测量方法
申请号	CN202011201872.6	申请日期	2020-11-02
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-03-16	公开/公告号	CN112504154A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/16 用于计量固体的变形，例如光学应变仪	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;1;6查看分类表>
申请人	南京信息工程大学滨江学院	申请人地址	江苏省无锡市锡山区锡山大道333号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	南京信息工程大学滨江学院	当前权利人	南京信息工程大学滨江学院
发明人	朱硕
代理机构	南京苏高专利商标事务所（普通合伙）	代理人	柏尚春

摘要

本发明公开了一种基于光路的大尺寸支撑结构形变量测量装置及方法，包括激光测距设备、接收器、折转镜、支撑架、参考镜和测试镜，折转镜安装在支撑架上，参考镜安装于待测结构朝向激光测距设备的一侧上，测试镜安装于待测结构远离激光测距设备的另一侧上，支撑架设于激光测距设备与待测结构之间，激光测距设备与接收器相连；参考镜与测试镜的数量相同。本发明的测试装置通过测量激光的位移变化量，得出被测结构三维位置的形变量，精度高，在待测支撑结构尺寸在5m×5m×5m范围内时三维位置变形量测量精度可达5μm。本发明的测试方法能灵活应用于多种不同结构形式的大尺寸支撑结构的三维变形量测试，适用范围广泛，简单易行，效率高，节约时间与成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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