用于辐射探测的阵列固体探测器

实用新型专利无效专利

申请号：
CN200820108523.8
IPC分类号：G01T1/20;G01T1/24;A61B6/00
申请日期：
2008-06-12
申请人：
清华大学;同方威视技术股份有限公司

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著录项信息

专利名称	用于辐射探测的阵列固体探测器
申请号	CN200820108523.8	申请日期	2008-06-12
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T1/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T1/00 X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量（G01T 3/00，G01T 5/00优先）〔2〕 G01T1/16 辐射强度测量（G01T 1/29优先）〔2〕 G01T1/20 用闪烁探测器	IPC分类号	G;0;1;T;1;/;2;0;;;G;0;1;T;1;/;2;4;;;A;6;1;B;6;/;0;0查看分类表>
申请人	清华大学;同方威视技术股份有限公司	申请人地址	北京市海淀区清华大学变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	清华大学,同方威视技术股份有限公司	当前权利人	清华大学,同方威视技术股份有限公司
发明人	赵书清;李元景;代主得;江年铭;张清军;姚楠
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	张成新

摘要

一种用于辐射探测的阵列固体探测器，包括检测沿预定方向辐射的射线的多个传感器，所述传感器具有射线入射的端面，和多个第一板，所述多个第一板大体平行设置，形成至少一行空间，所述多个传感器排列在所述空间中，其中所述多个第一板由金属形成。用这种结构形式可以构建任意多列的阵列固体探测器，由此，能够在不牺牲扫描图像的空间分辨率和反差灵敏度的情况下提高大型物体辐射检测速度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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