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测量尘埃粒子的光学传感器

实用新型专利无效专利
  • 申请号:
    CN200720044974.5
  • IPC分类号:G01N15/00;G01N15/02;G01N15/06;G01N21/51
  • 申请日期:
    2007-11-16
  • 申请人:
    苏州华达仪器设备有限公司
著录项信息
专利名称测量尘埃粒子的光学传感器
申请号CN200720044974.5申请日期2007-11-16
法律状态放弃专利权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N15/00IPC分类号G;0;1;N;1;5;/;0;0;;;G;0;1;N;1;5;/;0;2;;;G;0;1;N;1;5;/;0;6;;;G;0;1;N;2;1;/;5;1查看分类表>
申请人苏州华达仪器设备有限公司申请人地址
江苏省苏州市吴中区渡村人民街 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人苏州华达仪器设备有限公司当前权利人苏州华达仪器设备有限公司
发明人黄惠杰;邹丽新;孙民
代理机构南京苏科专利代理有限责任公司代理人陈忠辉
摘要
本实用新型提供了一种测量尘埃粒子的低噪声光学传感器,由照明系统、散射光收集系统、光电转换器和气路系统组成;照明系统包括聚焦透镜、光敏感区和光陷阱;散射光收集系统包括旋转凹面反射镜、光敏感区、光阑和中继透镜组;气路系统由进气管、光敏感区和出气管构成。其中,光陷阱为双锥形结构,光敏感区与光阑分别位于旋转凹面反射镜的两个共轭位置处,光阑与光电转换器敏感面分别位于中继透镜组的两个共轭位置处,旋转凹面反射镜与中继透镜组组成的成像系统的总倍率的绝对值小于1。本实用新型具有噪声低、信噪比高、灵敏度高的优点,具有较强的推广意义。

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