高电阻率铁磁材料缺陷检测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201210357928.6
IPC分类号：G01N25/20
申请日期：
2012-09-24
申请人：
中国计量学院

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法律信息

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著录项信息

专利名称	高电阻率铁磁材料缺陷检测方法
申请号	CN201210357928.6	申请日期	2012-09-24
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2013-01-16	公开/公告号	CN102879420A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N25/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N25/00 应用热方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 23/00优先） G01N25/20 通过测量热的变化，即量热法，例如通过测量比热，测量热导率	IPC分类号	G;0;1;N;2;5;/;2;0查看分类表>
申请人	中国计量学院	申请人地址	浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国计量学院	当前权利人	中国计量学院
发明人	侯德鑫;叶树亮
代理机构	杭州求是专利事务所有限公司	代理人	杜军

摘要

本发明提供一种对高电阻率铁磁材料的裂纹、气泡等缺陷进行无损检测的方法。本发明基本检测流程是将检测对象置于交变磁场中交流磁化使其温度升高，同时采用红外热像仪实时获取热图像，根据缺陷引起的温度场分布异常检测缺陷。相比较已公开的热成像无损检测方法，本发明主要特征是热激励手段不同，通过铁磁材料在交流磁化过程中的磁滞损耗来实现。本发明所述方法可以在非接触的情况下对检测对象从内部进行加热进而检测缺陷，并且不要求检测对象导电，特别适合于铁氧体等高电阻率铁磁材料缺陷检测。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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