冷热冲击测试装置及测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010116819.X
IPC分类号：G01N3/60;G01N3/02
申请日期：
2020-02-25
申请人：
芯恩（青岛）集成电路有限公司

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著录项信息

专利名称	冷热冲击测试装置及测试方法
申请号	CN202010116819.X	申请日期	2020-02-25
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2021-09-10	公开/公告号	CN113376048A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N3/60 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N3/00 用机械应力测试固体材料的强度特性 G01N3/60 测试材料，例如耐火材料耐急剧热变化的性能	IPC分类号	G;0;1;N;3;/;6;0;;;G;0;1;N;3;/;0;2查看分类表>
申请人	芯恩（青岛）集成电路有限公司	申请人地址	山东省青岛市黄岛区太白山路19号德国企业南区401 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	芯恩（青岛）集成电路有限公司	当前权利人	芯恩（青岛）集成电路有限公司
发明人	张汝京;蒋小金;孙明圣
代理机构	上海光华专利事务所（普通合伙）	代理人	余明伟

摘要

本发明提供一种冷热冲击测试装置及方法。该装置包括腔体、真空泵及驱动单元；真空泵与腔体相连通，用于使腔体在工作过程中保持真空；腔体包括冷冲击室、热冲击室及样品承载室，冷冲击室和热冲击室位于样品承载室的两侧；样品承载室内设置有用于承载测试样品的样品承载盘，驱动单元与样品承载盘相连接，用于驱动样品承载盘，以将测试样品送至冷冲击室和/或热冲击室进行冲击测试。采用本发明的冷热冲击测试装置可在真空环境下进行冷热冲击测试，有助于降低功率损耗，提高测试效率及设备产出率，降低生产成本。依本发明的冷热冲击测试装置进行的冷热冲击测试方法操作简单，有助于提高测试精度及效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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