一种空气折射率快速高精度绝对测量装置及其测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201110164544.8
IPC分类号：G01N21/41
申请日期：
2011-06-17
申请人：
清华大学

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种空气折射率快速高精度绝对测量装置及其测量方法
申请号	CN201110164544.8	申请日期	2011-06-17
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2012-01-18	公开/公告号	CN102323237A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/41 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/41 折射率；影响相位的性质，例如光程长度（G01N 21/21优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;4;1查看分类表>
申请人	清华大学	申请人地址	北京市海淀区信箱82分箱清华大学专利办公室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	清华大学	当前权利人	清华大学
发明人	张继涛;李岩;尉昊赟
代理机构	西安智大知识产权代理事务所	代理人	贾玉健

摘要

一种空气折射率快速高精度绝对测量装置，测量装置和方法没有抽充气过程，且三支真空管同时测量，测量速度最快可在10秒内完成，该装置的测量范围可达4×10-4，测量不确定度可达10-8，是一种空气折射率的快速、高精度的绝对测量方法和装置，实现了测量准确度高、测量时间短、仪器加工方便以及测量范围大的优点，同时还适用于除了空气外的其他气体的折射率测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供