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IGBT器件动态测试用夹具及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010357952.4
  • IPC分类号:G01R1/04G01R31/26
  • 申请日期:
    2020-04-29
  • 申请人:
    株洲中车时代半导体有限公司
著录项信息
专利名称IGBT器件动态测试用夹具及方法
申请号CN202010357952.4申请日期2020-04-29
法律状态公开申报国家中国
公开/公告日2021-11-16公开/公告号CN113655242A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R1/04IPC分类号G01R1/04;G01R31/26查看分类表>
申请人株洲中车时代半导体有限公司申请人地址
湖南省株洲市石峰区田心高科园半导体三线办公大楼三楼3*** 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人株洲中车时代半导体有限公司当前权利人株洲中车时代半导体有限公司
发明人王真;万超群;李贵生;陈彦;宋自珍;陈喻;李义;翟龙;朱婷
代理机构北京聿宏知识产权代理有限公司代理人吴大建;张高洁
摘要
本发明涉及一种IGBT器件动态测试用夹具及方法,涉及IGBT器件技术领域,用于降低测试电路中杂散电感。本发明的IGBT器件动态测试用夹具,包括第一夹具、第二夹具和支撑架,通过将第一夹具和第二夹具分别设置为关于第一IGBT器件和第二IGBT器件对称且具有层叠结构,从而利用电磁耦合原理降低测试电路中杂散电感,有助于提升器件动态参数测试的可靠性。

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