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测量微量电容变化的电路

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200810151506.7
  • IPC分类号:G01R27/26
  • 申请日期:
    2008-09-22
  • 申请人:
    天津菲特测控仪器有限公司
著录项信息
专利名称测量微量电容变化的电路
申请号CN200810151506.7申请日期2008-09-22
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2009-02-04公开/公告号CN101359011
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R27/26IPC分类号G;0;1;R;2;7;/;2;6查看分类表>
申请人天津菲特测控仪器有限公司申请人地址
天津市南开区榕苑路鑫茂科技园B座6层B单元 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人天津菲特测控仪器有限公司当前权利人天津菲特测控仪器有限公司
发明人秦旭东;鲍云竹
代理机构天津市北洋有限责任专利代理事务所代理人江镇华
摘要
本发明属于电容检测技术领域,涉及一种测量微量电容变化的电路,包括基准信号发生电路,电桥电路,第一放大整形电路,第二放大整形电路,信号比较电路,其中,基准信号发生电路,生成用以驱动电桥电路的对称的交流信号,接在第二放大整形电路的输入端;待测电容和基准电容分别接在电桥电路的两个桥臂上,电桥电路的驱动信号即为所述的基准信号,其输出信号即为待测信号,待测信号接入第一放大整形电路的输入端;两个放大整形电路的输出分别接在信号比较电路的两个输入端;信号比较电路用于根据两个放大整形电路的输出信号的相位信息,判断待测电容是否发生变化。本发明的电路结构新颖,体积小,具有高可靠性,对环境要求低,无须特殊元件筛选工艺,无须调试的优点。

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