折射率测量仪

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201720036493.3
IPC分类号：G01N21/41
申请日期：
2017-01-11
申请人：
裴钊

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	折射率测量仪
申请号	CN201720036493.3	申请日期	2017-01-11
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/41 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/41 折射率；影响相位的性质，例如光程长度（G01N 21/21优先）〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;4;1查看分类表>
申请人	裴钊	申请人地址	北京市海淀区学院路30号北京科技大学变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	裴钊	当前权利人	裴钊
发明人	裴洋;裴钊;高宇
代理机构	中科专利商标代理有限责任公司	代理人	任岩

摘要

本实用新型公开了一种折射率测量仪，包括：表盘，活动指针、玻璃砖和标记物，表盘放置于玻璃砖上方，在表盘上设置至少两个卡槽，卡槽分别位于玻璃砖的入射光和折射光一侧，其中位于折射光一侧的卡槽内边沿与玻璃砖相切，活动指针与表盘转动连接，活动指针上设置细缝，根据入射光位置在表盘上读取入射角，折射光的方向通过标记物、活动指针和卡槽标定，透过活动指针上的细缝在表盘上读取折射角，从而计算出玻璃折射率。使用本实用新型的折射率测量仪测量折射率时，无需绘制光线，通过表盘上的刻度读出入射角和折射角，从而避免了因绘制光线而引入的测量错误，大大减少了工作量，提高了测量效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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