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灰化装置,灰化方法及用于制造半导体器件的方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN02124461.8
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2002-06-26
  • 申请人:
    精工爱普生株式会社
著录项信息
专利名称灰化装置,灰化方法及用于制造半导体器件的方法
申请号CN02124461.8申请日期2002-06-26
法律状态撤回申报国家中国
公开/公告日2003-02-05公开/公告号CN1395294
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人精工爱普生株式会社申请人地址
日本东京 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人精工爱普生株式会社当前权利人精工爱普生株式会社
发明人柴田巧
代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司代理人余刚
摘要
本发明提供了一种灰化装置,一种灰化方法,和一种用于制造半导体器件的方法,该装置和方法能够减少残留在被处理体上的异物。该用于制造半导体器件的方法包括以下步骤在底膜1上形成氮化钛膜2;在氮化钛膜2上涂敷光致抗蚀膜,将该光致抗蚀膜曝光、显影;使用对铝合金膜进行蚀刻的蚀刻加工装置,以光致抗蚀膜4a为掩膜,对氮化钛膜2进行蚀刻;将氧气及氮气的混合气体导入光致抗蚀膜附近,并将该气体进行等离子化处理,从而对光致抗蚀膜进行灰化;将水蒸汽导入氮化钛膜附近,并将该气体进行等离子化处理,从而对氮化钛膜上的异物进行灰化。

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