一种侧面5G测试设备

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202021007431.8
IPC分类号：G01R31/00;G01R1/04;G01R1/073
申请日期：
2020-06-04
申请人：
深圳市振云精密测试设备有限公司

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著录项信息

专利名称	一种侧面5G测试设备
申请号	CN202021007431.8	申请日期	2020-06-04
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;1;/;0;4;;;G;0;1;R;1;/;0;7;3查看分类表>
申请人	深圳市振云精密测试设备有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区西乡街道龙珠社区107国道润东晟工业区13栋2层13栋1层B、13栋5层B、8栋1层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市振云精密测试设备有限公司	当前权利人	深圳市振云精密测试设备有限公司
发明人	黄庆云
代理机构	深圳市龙成联合专利代理有限公司	代理人	陈丽燕

摘要

本实用新型提供一种侧面5G测试设备，包括上针测试模组、底座和侧面测试模组，上针测试模组通过第一动力组件与底座上下活动连接，上针测试模组与底座之间连接有第一载板组件，所述上针测试模组靠近所述第一载板组件一侧设有向下凸起的第一测试针，所述上针测试模组向下移动与所述第一载板组件压合，进行上针测试；所述侧面测试模组位于所述第一载板组件上，压合组件能够将放置在第二载板组件上的待测件与所述侧面测试组件压合，所述侧面测试组件对待测件进行侧面测试。本申请提供的侧面5G测试设备可以同时满足上针测试和侧面5G测试，提高了测试效率，且5G测试模块设置在所述屏蔽箱内，可屏蔽外界对5G测试模块的干扰和减少5G信号的泄露。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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