激光量测机台扫描精度验证方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200510033934.6
IPC分类号：G01B11/00;G01M11/00
申请日期：
2005-04-01
申请人：
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

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引证文献

著录项信息

专利名称	激光量测机台扫描精度验证方法
申请号	CN200510033934.6	申请日期	2005-04-01
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2006-10-04	公开/公告号	CN1841008
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;M;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司	当前权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司
发明人	阙凌华;袁忠奎;徐韦;欣小波;林桂央
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明提供一种激光量测机台扫描精度验证方法。该方法包括如下步骤：制作一个有球面形状的3D标准治具；在该治具上定出基准，利用高精密接触式扫描测头按照该基准扫描该治具获得点云数据；将上述点云数据拟合成一理想曲面，将该理想曲面作为名义真值；激光量测机台按照上述相同基准扫描该治具，获取点云数据；计算上述基于同一基准的激光扫描点云与理想曲面的最大偏差作为评估准确度的参数；在相同扫描方式及扫描参数的条件下，重复量测多次，判断每次扫描点云与理想曲面的最大偏差之间的一致程度，以进行重复性评估。利用本发明可以验证激光扫描精度及量测各种工件的最适合扫描参数。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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