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磁体尺寸自动测量分选装置

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200810207927.7
  • IPC分类号:B07C5/10;B07C5/36;B07C5/02
  • 申请日期:
    2008-12-26
  • 申请人:
    上海爱普生磁性器件有限公司;北京中科三环高技术股份有限公司
著录项信息
专利名称磁体尺寸自动测量分选装置
申请号CN200810207927.7申请日期2008-12-26
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2009-06-03公开/公告号CN101444779
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B07C5/10IPC分类号B;0;7;C;5;/;1;0;;;B;0;7;C;5;/;3;6;;;B;0;7;C;5;/;0;2查看分类表>
申请人上海爱普生磁性器件有限公司;北京中科三环高技术股份有限公司申请人地址
上海市嘉定区城北路18号;上海市嘉定区城北路18号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海爱普生磁性器件有限公司,北京中科三环高技术股份有限公司当前权利人上海爱普生磁性器件有限公司,北京中科三环高技术股份有限公司
发明人周志建;李纲
代理机构上海金盛协力知识产权代理有限公司代理人罗大忱
摘要
一种磁体尺寸自动测量分选装置,包括机架,设置在机架上的输送轨道,与所述输送轨道相连接并驱动所述输送轨道运转的电机,设于所述机架上的摄像头和产品检测探头,所述产品检测探头在产品输送到所述摄像头对准位置时发出控制信号,与所述产品检测探头、摄像头相连接的图像处理单元,与所述图像处理单元相连接的PLC控制电路,与所述PLC控制电路相连接的分捡装置。本发明可以实现对磁体的尺寸参数的自动测量并分选,尤其适宜于圆环形状的磁体的内外径,包括同轴度的测量,瓦片状、长条状磁体的高度测量及分选,大大节省了人力和物力;另外,同现有技术相比较,该工作的装置判断准确,误差极小,可靠性高,有效避免了人为因素带来的误差。

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