基于太赫兹量子阱探测器的被动式热成像探测系统及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201110207838.4
IPC分类号：G01J5/10
申请日期：
2011-07-25
申请人：
中国科学院上海微系统与信息技术研究所

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著录项信息

专利名称	基于太赫兹量子阱探测器的被动式热成像探测系统及方法
申请号	CN201110207838.4	申请日期	2011-07-25
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2011-12-21	公开/公告号	CN102288299A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J5/10 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J5/00 辐射高温测定法 G01J5/10 用电辐射检测器	IPC分类号	G;0;1;J;5;/;1;0查看分类表>
申请人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	申请人地址	上海市长宁区长宁路865号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	当前权利人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所
发明人	周涛;曹俊诚;张戎;郭旭光
代理机构	上海光华专利事务所	代理人	李仪萍

摘要

本发明公开了一种基于太赫兹量子阱探测器的被动式热成像探测系统及方法，利用光电导型太赫兹量子阱探测器作为探测器，采用自行设计的辐射信号去噪调制方法，同步控制模块和信号传输-汇聚光路，完成了基于THzQWP的被动式热成像探测。在热辐射信号的采集端，利用可调式孔径光阑和斩波器对热辐射信号进行调制，调制频率由斩波器设定。THzQWP的信号检测电路端采用光电导模式，THzQWP通过离轴抛面镜组汇聚光路接收辐射信号并提取THz信号，通过加上稳定偏压，经跨阻放大器将THzQWP光电流转换成电压，通过低噪声放大器放大，由锁相放大器读数据。读出的信号再由同步控制模块记录并处理，最终获得热图像信息。

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