变频器老化测试装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200410084229.4
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2004-11-17
申请人：
上海神源电气有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	变频器老化测试装置
申请号	CN200410084229.4	申请日期	2004-11-17
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2006-05-31	公开/公告号	CN1779471
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	上海神源电气有限公司	申请人地址	上海市闵行区七宝中春路7318号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海神源电气有限公司	当前权利人	上海神源电气有限公司
发明人	王会华;纪正达;钱匡;胡新宇
代理机构	上海智信专利代理有限公司	代理人	薛琦

摘要

本发明涉及一种变频器老化测试装置，电源输入补充老化系统工作时损耗的能量，H1、H2、H5、C1、C2、C5及隔离变压器的作用为对待老化变频器的输出进行滤波及隔离，转换为合适幅度的三相正弦波电压输送给SPWM整流器控制单元；该单元把三相逆变桥的三相交流电整流为P’－N’总线上的直流电，回馈到待老化变频器的P－N直流总线上，供待老化变频器再使用；可以将85％以上的电能回馈到系统再使用，节约了大量能源；使用本发明后，耗能极少，对环境温度影响很小，减少了对电网的污染；对电源无要求，可以是单相，三相或直流供电，可以老化单相、三相或直流供电的不同功率等级的变频器，降低了老化设备的投资，使用方便简单。

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