一种非接触式航天器舱段对接面干涉检查方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202011441534.X
IPC分类号：G01B11/14
申请日期：
2020-12-11
申请人：
北京卫星环境工程研究所

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著录项信息

专利名称	一种非接触式航天器舱段对接面干涉检查方法
申请号	CN202011441534.X	申请日期	2020-12-11
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2021-04-09	公开/公告号	CN112629425A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/14 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/14 用于计量相隔的物体或孔的间距或间隙（G01B 11/26优先；测距仪本身入G01C 3/00）	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;1;4查看分类表>
申请人	北京卫星环境工程研究所	申请人地址	北京市海淀区友谊路104号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京卫星环境工程研究所	当前权利人	北京卫星环境工程研究所
发明人	唐赖颖;冯伟;易旺民;赵志纲;孟少华;李长勋;隆昌宇;孟凡伟;王临政;杨再华;王伟;张洁;王勇强
代理机构	北京志霖恒远知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	郭栋梁

摘要

本申请提供一种非接触式航天器舱段对接面干涉检查方法，所述方法包括：确定两个对接面的基准点的对应关系，并在基准点上粘贴基准点视觉靶标；按照可视范围将两个对接面分别分区，并在每个区域内粘贴公共点视觉靶标；通过扫描设备分别对两个对接面进行分区扫描，得到每个对接面的分区点云数据；对每个对接面的分区点云数据进行拼接，形成对接面的完整点云数据；通过两个对接面的完整点云数据将两个对接面虚拟对接；观察虚拟对接的两个对接面，分辨出干涉区域以及局部最小间隙区域；获取局部最小间隙区域之间的最小间距；局部最小间隙区域之间的最小间距即为两个对接面的最小间距。本申请解决了航天器对接面干涉不可视的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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