一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构

实用新型专利有效专利

申请号：
CN202021874563.0
IPC分类号：G01R31/00;G01R1/04
申请日期：
2020-09-01
申请人：
安徽省中测电子科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构
申请号	CN202021874563.0	申请日期	2020-09-01
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;1;/;0;4查看分类表>
申请人	安徽省中测电子科技有限公司	申请人地址	安徽省马鞍山市当涂县经济开发区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	安徽省中测电子科技有限公司	当前权利人	安徽省中测电子科技有限公司
发明人	郑孝荣;刘鑫
代理机构	安徽合肥华信知识产权代理有限公司	代理人	余成俊

摘要

本实用新型涉及电子产品老化测试技术领域，公开了一种用于电子产品的热风湿热一体老化测试结构，包括测试箱，测试箱为下端开口结构，测试箱的内箱顶连接有放置架，测试箱的下端箱口连接有水箱，测试箱和水箱通过测试机构相连接；测试机构包括呈“十”字型的支撑架，支撑架固定连接在水箱的内箱壁上，水箱的箱顶中心处通过密封轴承转动连接有上端密封的导管，且密封轴承镶嵌在水箱的箱顶，导管的两端穿过密封轴承设置，位于水箱内导管的管壁上连通有呈“L”型的出气管，出气管的另一端为密封状态。本实用新型对放置架上的电子产品均匀的喷出湿热气体，对其进行老化测试，提高了测试精度，且结构紧凑。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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