一种用于热老化测试的烤箱

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201620370224.6
IPC分类号：G01R31/26
申请日期：
2016-04-27
申请人：
杭州华扬电子有限公司

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著录项信息

专利名称	一种用于热老化测试的烤箱
申请号	CN201620370224.6	申请日期	2016-04-27
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6查看分类表>
申请人	杭州华扬电子有限公司	申请人地址	浙江省杭州市钱江经济开发区龙船坞路106号杭州华扬电子有限公司变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	杭州华扬电子有限公司	当前权利人	杭州华扬电子有限公司
发明人	马怡平
代理机构	杭州天欣专利事务所（普通合伙）	代理人	董力平

摘要

本实用新型提供了一种用于热老化测试的烤箱，包括箱体和测试板，箱体两侧壁内设有风道，箱体内设有温度传感器，箱体外侧设有操作面板，箱体外侧还设有液晶显示器，箱体内设有摄像头，摄像头与液晶显示器连接；箱体两侧下端设有加热装置和风机，加热装置与风道连接，风机安装在加热装置一侧；箱体内设有多组电源卡槽，每组电源卡槽两侧的箱体内壁上设有进风口，箱体顶端设有出风口，进风口和出风口分别与风道连接；所述测试板后端设有电源接头，测试板上设有多个插槽，插槽与电源接头连接，摄像头为耐高温摄像头。本实用新型结构设计合理，相比传统的测试方式，操作简单，加热效率好，可以实现在测试元件的同时进行实时观察。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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