测量超短激光脉冲宽度的自相关仪

发明专利无效专利

申请号：
CN200810050496.8
IPC分类号：G01J11/00
申请日期：
2008-03-18
申请人：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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引证文献

著录项信息

专利名称	测量超短激光脉冲宽度的自相关仪
申请号	CN200810050496.8	申请日期	2008-03-18
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2008-08-20	公开/公告号	CN101246057
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J11/00 测量单个光脉冲或光脉冲序列的特性〔5〕	IPC分类号	G;0;1;J;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	申请人地址	吉林省长春市东南湖大路16号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	当前权利人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
发明人	王希军
代理机构	长春菁华专利商标代理事务所	代理人	赵炳仁

摘要

本发明涉及一种测量超短激光脉冲宽度的测试装置，尤其是能实现无单光束谐波背景光的测量超短激光脉冲宽度的自相关仪。由固定聚焦反射镜、通过电机驱动的移动聚焦反射镜、非线性光学谐波发生器、滤光片和光电探测器组成，所述的非线性晶体设置在入射光束传播路径的外侧，入射光脉冲经过固定聚焦反射镜和移动聚焦反射镜反射分为两束光，两束光同时聚焦到非线性晶体中。本发明能消除单光束谐波背景光而具有较高的测量精度，离轴测量则消除了光路遮挡问题，改善了测量灵敏度，具有更宽的测量范围，可实现飞秒(10－15秒)和奥秒(10－18秒)激光脉宽的测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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