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MgZnO薄膜叠靶射频磁控溅射制备方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201310293559.3
  • IPC分类号:C23C14/35;C23C14/06
  • 申请日期:
    2013-07-12
  • 申请人:
    长春理工大学
著录项信息
专利名称MgZnO薄膜叠靶射频磁控溅射制备方法
申请号CN201310293559.3申请日期2013-07-12
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2013-09-25公开/公告号CN103320760A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C23C14/35IPC分类号C;2;3;C;1;4;/;3;5;;;C;2;3;C;1;4;/;0;6查看分类表>
申请人长春理工大学申请人地址
吉林省长春市朝阳区卫星路7989号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人长春理工大学当前权利人长春理工大学
发明人蒋大勇;赵曼;秦杰明;梁庆成;赵建勋;高尚;侯建华
代理机构长春菁华专利商标代理事务所代理人陶尊新
摘要
MgZnO薄膜叠靶射频磁控溅射制备方法属于半导体光电技术领域。现有技术在MgxZn1–xO薄膜晶体的生长过程中出现Zn原子流失。本发明在射频磁控溅射仪的真空室中进行,将由MgxZn1–xO陶瓷靶材制作的圆片状溅射靶放置在真空室内的溅射靶台上;衬底与溅射靶相对并位于溅射靶上方,真空室抽真空后通入溅射气体;衬底升温,提供溅射功率;其特征在于,在所述溅射靶台上增设一个Zn环靶,Zn环靶的内径等于所述溅射靶的外径,由溅射靶和Zn环靶构成叠靶。在Zn环靶上方形成上升的圆筒状Zn原子流,在一定程度上防止Mg、Zn、O原子流中的Zn流失,也对Mg、Zn、O原子流中的Zn流失进行Zn补充,MgxZn1–xO薄膜晶体中的Zn空位得到填补。

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